Alignement extensionnel et asymétrique de hiérarchies conceptuelles par découverte d'implications entre concepts
Abstract
Dans la littérature, de nombreux travaux traitent de méthodes d'alignement
d'ontologies. Ils utilisent, pour la plupart, des relations basées sur des
mesures de similarité qui ont la particularité d'être symétriques. Cependant, peu
de travaux évaluent l'intérêt d'utiliser des mesures d'appariement asymétriques
dans le but d'enrichir l'alignement produit. Ainsi, nous proposons dans ce papier
une méthode d'alignement extensionnelle et asymétrique basée sur la découverte
des implications significatives entre deux ontologies. Notre approche,
basée sur le modèle probabiliste d'écart à l'indépendance appelé intensité d'implication,
est divisée en deux parties consécutives : (1) l'extraction, à partir du
corpus textuel associé à l'ontologie, et l'association des termes aux concepts;
(2) la découverte et sélection des implications génératrices les plus significatives
entre les concepts. La méthode proposée est évaluée sur deux jeux de données
réels portant respectivement sur des profils d'entreprises et sur des catalogues
de cours d'universités. Les résultats obtenus montrent que l'on peut trouver des
relations pertinentes qui sont ignorées par un alignement basé seulement sur des
mesures de similarité.